Z wiadrem
akwarela
2017
Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN
Jest częścią kolekcji: Listy Dawida Zylberta do rodziny Małkowskich
List Dawida Zylberta do rodziny Małkowskich na jednej kartce liniowanego papieru w kolorze żółtym. W odpowiedzi na informację o śmierci Mieczysława Małkowskiego Dawid Zylbert pisze: „ja nie mam słów jakim człowiekiem on był podczas wojny i specjalnie w moich ciężkich dniach […] mnie bardzo pomagał, że zostałem przy życiu do teraz. Ja nie jestem rełigjęzny [sic!] ale Mietek będzie zawsze u mnie głęboko w sercu i ja nie zapomnę jego do moich ostatnych dni”.
Autor / wytwórca
Rodzaj obiektu
korespondencja
Technika
rękopis
Tworzywo / materiał
papier
Pochodzenie / sposób pozyskania
darowizna
Czas powstania / datowanie
Miejsce powstania / znalezienia
Numer identyfikacyjny
Lokalizacja / status
Kofta, Zuzanna
2017
Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN
Zylbert, Dawid
2008-03-08
Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN
Altman, Halina
1945-04-15
Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN
odkryj ten TEMAT
Muzeum Zamkowe w Malborku
odkryj tę ŚCIEŻKĘ
Ścieżka edukacyjna
0/500
Używamy plików cookie, aby ułatwić Ci korzystanie z naszego serwisu oraz do celów statystycznych. Plikami cookie możesz zarządzać, zmieniając ustawienia swojej przeglądarki internetowej. Więcej informacji w Polityce prywatności.
Używamy plików cookie, aby ułatwić Ci korzystanie z naszego serwisu oraz do celów statystycznych. Plikami cookie możesz zarządzać, zmieniając ustawienia swojej przeglądarki internetowej. Więcej informacji w Polityce prywatności.
Zarządzaj plikami cookies:
Ten rodzaj plików cookies jest niezbędny do funkcjonowania serwisu. Możesz zmienić ustawienia swojej przeglądarki tak, aby je zablokować, jednak strona nie będzie wtedy działała prawidłowo.
WYMAGANE
Służą do pomiaru zaangażowania użytkowników i generowania statystyk na temat serwisu w celu lepszego zrozumienia, jak jest używany. Jeśli zablokujesz ten rodzaj cookies nie będziemy mogli zbierać informacji o korzystaniu z serwisu i nie będziemy w stanie monitorować jego wydajności.