Bez tytułu (Żelazna x Solidarności)
fotografia
2020
Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN
Jest częścią kolekcji: Muranów w obiektywie Artura Żmijewskiego
Drugie, obok MPOLIN-M1048, czarno-białe zdjęcie wykonane szerokokątnym obiektywem prezentujące pomnik Bohaterów Getta w Warszawie. Fotografia ukazuje aktualny widok monumentu od strony ul. Lewartowskiego z płaskorzeźbą „Pochód na zagładę".
Po prawej stronie widać fragment fasady gmachu Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN zbudowanego w latach 2009–2012.
Małgorzata Bogdańska-Krzyżanek
Autor / wytwórca
Rodzaj obiektu
fotografia
Technika
fotografia cyfrowa
Tworzywo / materiał
nieznane
Pochodzenie / sposób pozyskania
zakup
Czas powstania / datowanie
Miejsce powstania / znalezienia
Właściciel
Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN
Numer identyfikacyjny
Lokalizacja / status
Żmijewski, Artur
2020
Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN
Żmijewski, Artur
2020
Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN
Żmijewski, Artur
2020
Muzeum Historii Żydów Polskich POLIN
odkryj ten TEMAT
Muzeum Narodowe w Szczecinie
odkryj tę ŚCIEŻKĘ
Ścieżka edukacyjna
0/500
Używamy plików cookie, aby ułatwić Ci korzystanie z naszego serwisu oraz do celów statystycznych. Plikami cookie możesz zarządzać, zmieniając ustawienia swojej przeglądarki internetowej. Więcej informacji w Polityce prywatności.
Używamy plików cookie, aby ułatwić Ci korzystanie z naszego serwisu oraz do celów statystycznych. Plikami cookie możesz zarządzać, zmieniając ustawienia swojej przeglądarki internetowej. Więcej informacji w Polityce prywatności.
Zarządzaj plikami cookies:
Ten rodzaj plików cookies jest niezbędny do funkcjonowania serwisu. Możesz zmienić ustawienia swojej przeglądarki tak, aby je zablokować, jednak strona nie będzie wtedy działała prawidłowo.
WYMAGANE
Służą do pomiaru zaangażowania użytkowników i generowania statystyk na temat serwisu w celu lepszego zrozumienia, jak jest używany. Jeśli zablokujesz ten rodzaj cookies nie będziemy mogli zbierać informacji o korzystaniu z serwisu i nie będziemy w stanie monitorować jego wydajności.